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[IEEE 2018 IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC) - Verona, Italy (2018.10.8-2018.10.10)] 2018 IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC) - Meta-model Based Automation of Properties for Pre-Silicon Verification

Devarajegowda, Keerthikumara, Ecker, Wolfgang
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Année:
2018
DOI:
10.1109/VLSI-SoC.2018.8644957
Fichier:
PDF, 936 KB
2018
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