Defect Classification With SVM and Wideband Excitation in...

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IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement 2019

Defect Classification With SVM and Wideband Excitation in Multilayer Aluminum Plates

Pasadas, Dario Jeronimo, Ramos, Helena Geirinhas, Feng, Bo, Baskaran, Prashanth, Ribeiro, Artur Lopes
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Année:
2019
Journal:
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement
DOI:
10.1109/TIM.2019.2893009
Fichier:
PDF, 9 KB
2019
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