Non-destructive depth compositional profiles by XPS...

Analytical and Bioanalytical Chemistry 2010 / 04 Vol. 396; Iss. 8

Non-destructive depth compositional profiles by XPS peak-shape analysis

M. C. López-Santos, F. Yubero, J. P. Espinós, A. R. González-Elipe
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Volume:
396
Langue:
english
Pages:
12
DOI:
10.1007/s00216-009-3312-9
Date:
April, 2010
Fichier:
PDF, 390 KB
english, 2010
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