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TOF-S-SIMS molecular depth profiling of organic bilayers...

Analytical and Bioanalytical Chemistry 2009 / 04 Vol. 393; Iss. 8

TOF-S-SIMS molecular depth profiling of organic bilayers using mechanical wear test methodology

Roel De Mondt, Luc Van Vaeck, Andreas Heile, Heinrich F. Arlinghaus, Frank Vangaever, Jens Lenaerts
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Volume:
393
Langue:
english
Pages:
5
DOI:
10.1007/s00216-009-2657-4
Date:
April, 2009
Fichier:
PDF, 487 KB
english, 2009
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