Island diodes triggering SCR in waffle layout with high...

Solid-State Electronics 2019 / 02 Vol. 152

Island diodes triggering SCR in waffle layout with high failure current for HV ESD protection

Zheng, Yifei, Jin, Xiangliang, Wang, Yang, Guan, Jian, Hao, Sanwan, Luo, Jun
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Volume:
152
Langue:
english
Journal:
Solid-State Electronics
DOI:
10.1016/j.sse.2018.11.001
Date:
February, 2019
Fichier:
PDF, 1.78 MB
english, 2019
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