Reliability Hardening Mechanisms in Cyber-Physical...

ACM Journal on Emerging Technologies in Computing Systems 2018 / 10 Vol. 14; Iss. 3

Reliability Hardening Mechanisms in Cyber-Physical Digital-Microfluidic Biochips

Lu, Guan-Ruei, Banerjee, Ansuman, Bhattacharya, Bhargab B., Ho, Tsung-Yi, Chen, Hung-Ming
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Volume:
14
Langue:
english
Journal:
ACM Journal on Emerging Technologies in Computing Systems
DOI:
10.1145/3229052
Date:
October, 2018
Fichier:
PDF, 4.21 MB
english, 2018
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