Methodical Approach for Immunity Assessment of Electronic...

Journal of Electronic Testing 2018 / 10 Vol. 34; Iss. 5

Methodical Approach for Immunity Assessment of Electronic Devices Excited by High Power EMP

Chepelev, Vladimir, Parfenov, Yury, Radasky, William, Titov, Boris, Zdoukhov, Leonid, Li, Kejie, Chen, Yuhao, Kong, Xu, Xie, Yan-zhao
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Volume:
34
Langue:
english
Journal:
Journal of Electronic Testing
DOI:
10.1007/s10836-018-5749-2
Date:
October, 2018
Fichier:
PDF, 1.34 MB
english, 2018
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