Spectroscopic ellipsometry characterization of multilayer...

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Spectroscopic ellipsometry characterization of multilayer optical coatings

Hilfiker, James N., Pribil, Greg K., Synowicki, Ron, Martin, Andrew C., Hale, Jeffrey S.
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Langue:
english
Journal:
Surface and Coatings Technology
DOI:
10.1016/j.surfcoat.2018.10.003
Date:
October, 2018
Fichier:
PDF, 3.97 MB
english, 2018
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