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NBTI and irradiation related degradation mechanisms in...

Microelectronics Reliability 2018 / 09 Vol. 88-90

NBTI and irradiation related degradation mechanisms in power VDMOS transistors

Stojadinović, N., Djorić-Veljković, S., Davidović, V., Golubović, S., Stanković, S., Prijić, A., Prijić, Z., Manić, I., Danković, D.
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Volume:
88-90
Langue:
english
Journal:
Microelectronics Reliability
DOI:
10.1016/j.microrel.2018.07.138
Date:
September, 2018
Fichier:
PDF, 1.56 MB
english, 2018
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