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Application of MIS-CELIV technique to measure hole mobility...

Application of MIS-CELIV technique to measure hole mobility of hole-transport material for organic light-emitting diodes

Katagiri, Chiho, Yoshida, Tsukasa, White, Matthew Schuette, Yumusak, Cigdem, Sariciftci, Niyazi Serdar, Nakayama, Ken-ichi
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Volume:
8
Langue:
english
Journal:
AIP Advances
DOI:
10.1063/1.5045711
Date:
October, 2018
Fichier:
PDF, 530 KB
english, 2018
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