Examination of the Structural Quality of InAsSbBi Epilayers...

Microscopy and Microanalysis 2018 / 08 Vol. 24; Iss. S1

Examination of the Structural Quality of InAsSbBi Epilayers using Cross Section Transmission Electron Microscopy

Kosireddy, Rajeev R., Schaefer, Stephen T., Shalindar, Arvind J., Webster, Preston T., Johnson, Shane R.
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Volume:
24
Langue:
english
Journal:
Microscopy and Microanalysis
DOI:
10.1017/S1431927618000673
Date:
August, 2018
Fichier:
PDF, 3.23 MB
english, 2018
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