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[IEEE 2018 IEEE 68th Electronic Components and Technology Conference (ECTC) - San Diego, CA, USA (2018.5.29-2018.6.1)] 2018 IEEE 68th Electronic Components and Technology Conference (ECTC) - Effect of Interaction Between Multiple Defects on Z-Depth Estimate in Lock-in Thermography Applications

Ravi, Bharath Viswanath, Xie, Mayue, Goyal, Deepak
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Année:
2018
DOI:
10.1109/ECTC.2018.00343
Fichier:
PDF, 769 KB
2018
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