Low Accelerating Voltage Scanning Transmitted Electron...

Low Accelerating Voltage Scanning Transmitted Electron Microscope: Imaging, Diffraction, X-ray Microanalysis, and Electron Energy-Loss Spectroscopy at the Nanoscale

Demers, Hendrix, Brodusch, Nicolas, Gauvin, Raynald
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Volume:
23
Langue:
english
Journal:
Microscopy and Microanalysis
DOI:
10.1017/S1431927617003324
Date:
July, 2017
Fichier:
PDF, 284 KB
english, 2017
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