A New SOLT Calibration Method for Leaky On-Wafer...

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IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques 2018

A New SOLT Calibration Method for Leaky On-Wafer Measurements Using a 10-Term Error Model

Liu, Chen, Wu, Aihua, Li, Chong, Ridler, Nick
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Année:
2018
Langue:
english
Journal:
IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques
DOI:
10.1109/TMTT.2018.2832052
Fichier:
PDF, 2.27 MB
english, 2018
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