Vertical natural convection models and their effect on...

Microelectronics Reliability 2018 / 06 Vol. 85

Vertical natural convection models and their effect on failure analysis in electro-thermal simulation of large-surface OLEDs

Pohl, László, Kohári, Zsolt, Poppe, András
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Volume:
85
Langue:
english
Journal:
Microelectronics Reliability
DOI:
10.1016/j.microrel.2018.05.002
Date:
June, 2018
Fichier:
PDF, 1.78 MB
english, 2018
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