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A novel highly reliable and low-power radiation hardened...

IEICE Electronics Express 2018 Vol. 15; Iss. 3

A novel highly reliable and low-power radiation hardened SRAM bit-cell design

Lin, Dianpeng, Xu, Yiran, Liu, Xiaonian, Zhu, Wenyi, Dai, Lihua, Zhang, Mengying, Li, Xiaoyun, Xie, Xin, Jiang, Jianwei, Zhu, Huilong, Zhang, Zhengxuan, Zou, Shichang
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Volume:
15
Année:
2018
Langue:
english
Journal:
IEICE Electronics Express
DOI:
10.1587/elex.15.20171129
Fichier:
PDF, 1.51 MB
english, 2018
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