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[IEEE 2017 IEEE International Ultrasonics Symposium (IUS) - Washington, DC, USA (2017.9.6-2017.9.9)] 2017 IEEE International Ultrasonics Symposium (IUS) - SAW RFID with enhanced penetration depth

Zhao, Xupeng, Shi, Ruchuan, Qin, Peng, Ji, Xiaojun, Ma, Yixin, Wen, Yumei, Li, Ping, Han, Tao
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Année:
2017
Langue:
english
DOI:
10.1109/ULTSYM.2017.8092838
Fichier:
PDF, 54 KB
english, 2017
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