Source/Drain Engineered Charge-Plasma Junctionless...

  • Main
  • 2018
  • Source/Drain Engineered Charge-Plasma Junctionless...

Source/Drain Engineered Charge-Plasma Junctionless Transistor for the Immune of Line Edge Roughness Effect

Wan, Wenbo, Lou, Haijun, Xiao, Ying, Lin, Xinnan
Avez-vous aimé ce livre?
Quelle est la qualité du fichier téléchargé?
Veuillez télécharger le livre pour apprécier sa qualité
Quelle est la qualité des fichiers téléchargés?
Année:
2018
Langue:
english
Journal:
IEEE Transactions on Electron Devices
DOI:
10.1109/TED.2018.2812241
Fichier:
PDF, 2.21 MB
english, 2018
La conversion en est effectuée
La conversion en a échoué