Accelerated Test Methods for Reliability Prediction

Journal of Quality Technology 2013 / 07 Vol. 45; Iss. 3

Accelerated Test Methods for Reliability Prediction

Collins, David H., Freels, Jason K., Huzurbazar, Aparna V., Warr, Richard L., Weaver, Brian P.
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Volume:
45
Langue:
english
Journal:
Journal of Quality Technology
DOI:
10.1080/00224065.2013.11917936
Date:
July, 2013
Fichier:
PDF, 641 KB
english, 2013
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