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[IEEE 2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics (MIEL) - Nis (2017.10.9-2017.10.11)] 2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics (MIEL) - Power MOSFET single event burnout hardness increasing by neutron preirradiation

Kessarinskiy, L., Boychenko, D., Nikiforov, A., Polokhov, A., Kritskaya, T., Davydov, G.
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Année:
2017
Langue:
english
DOI:
10.1109/miel.2017.8190093
Fichier:
PDF, 420 KB
english, 2017
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