Heavy Ion and Proton-Induced Single Event Upset...

IEEE Transactions on Nuclear Science 2018 / 1 Vol. 65; Iss. 1

Heavy Ion and Proton-Induced Single Event Upset Characteristics of a 3-D NAND Flash Memory

Chen, Dakai, Wilcox, Edward, Ladbury, Raymond L., Seidleck, Christina, Kim, Hak, Phan, Anthony, LaBel, Kenneth A.
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Volume:
65
Langue:
english
Journal:
IEEE Transactions on Nuclear Science
DOI:
10.1109/TNS.2017.2764852
Date:
January, 2018
Fichier:
PDF, 2.53 MB
english, 2018
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