Read Static Noise Margin Decrease of 65 nm 6-T SRAM Cell...

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IEEE Transactions on Nuclear Science 2017

Read Static Noise Margin Decrease of 65 nm 6-T SRAM Cell Induced by Total Ionizing Dose

Zheng, Qiwen, Cui, Jiangwei, Yu, Xuefeng, Lu, Wu, He, Chengfa, Ma, Teng, Zhao, Jinghao, Ren, Diyuan, Guo, Qi
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Année:
2017
Langue:
english
Journal:
IEEE Transactions on Nuclear Science
DOI:
10.1109/TNS.2017.2786227
Fichier:
PDF, 572 KB
english, 2017
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