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Reliability analysis for electronic devices using...

Quality and Reliability Engineering International 2017 / 09

Reliability analysis for electronic devices using beta-Weibull distribution

Méndez-González, Luis Carlos, Rodríguez-Picón, Luis Alberto, Valles-Rosales, Delia Julieta, Romero-López, Roberto, Quezada-Carreón, Abel Eduardo
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Langue:
english
Journal:
Quality and Reliability Engineering International
DOI:
10.1002/qre.2214
Date:
September, 2017
Fichier:
PDF, 759 KB
english, 2017
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