A Scalable Multi-Functional Thermal Test Chip Family:...

Journal of Electronic Packaging 2001 Vol. 123; Iss. 4

A Scalable Multi-Functional Thermal Test Chip Family: Design and Evaluation

Benedek, Zs., Courtois, B., Farkas, G., Kollár, E., Mir, S., Poppe, A., Rencz, M., Székely, V., Torki, K.
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Volume:
123
Année:
2001
Langue:
english
Journal:
Journal of Electronic Packaging
DOI:
10.1115/1.1389846
Fichier:
PDF, 1.30 MB
english, 2001
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