Structural and spectroscopic analysis of...

Structural and spectroscopic analysis of ex-situ annealed RF sputtered aluminium doped zinc oxide thin films

Otieno, Francis, Airo, Mildred, Erasmus, Rudolph M., Billing, David G., Quandt, Alexander, Wamwangi, Daniel
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Volume:
122
Langue:
english
Journal:
Journal of Applied Physics
DOI:
10.1063/1.4998939
Date:
August, 2017
Fichier:
PDF, 8.33 MB
english, 2017
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