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Mesure automatique de profondeur de pénétration dans des supraconducteurs utilisant un microprocesseur
N. J. Imfeld, C. Egloff, L. RindererVolume:
29
Pages:
1
Journal:
Zeitschrift fur Angewandte Mathematik und Physik (ZAMP)
DOI:
10.1007/bf01601498
Date:
July, 1978
Fichier:
PDF, 42 KB
1978