Materials Science Applications of Aberration Corrected TEM...

Microscopy and Microanalysis 2015 / 08 Vol. 21; Iss. S3

Materials Science Applications of Aberration Corrected TEM and/or STEM

Van Tendeloo, Gustaaf, Abakumov, Artem, Bals, Sara, Van Aert, Sandra, Verbeeck, Jo
Avez-vous aimé ce livre?
Quelle est la qualité du fichier téléchargé?
Veuillez télécharger le livre pour apprécier sa qualité
Quelle est la qualité des fichiers téléchargés?
Volume:
21
Langue:
english
Journal:
Microscopy and Microanalysis
DOI:
10.1017/S1431927615006443
Date:
August, 2015
Fichier:
PDF, 294 KB
english, 2015
La conversion en est effectuée
La conversion en a échoué