SPIE Proceedings [SPIE SPIE Optical Engineering +...

  • Main
  • SPIE Proceedings [SPIE SPIE Optical...

SPIE Proceedings [SPIE SPIE Optical Engineering + Applications - San Diego, California, United States (Sunday 28 August 2016)] Optical System Alignment, Tolerancing, and Verification X - How to align a new detector and micro shutter inside JWST’s Near Infrared Spectrograph (NIRSpec)

Sasián, José, Youngworth, Richard N., te Plate, Maurice, Rumler, Peter, Jensen, Peter, Eder, Robert, Ehrenwinkler, Ralf, Merkle, Frank, Roedel, Andreas, Speckmaier, Max, Johnson, Thomas E., Mott, Bren
Avez-vous aimé ce livre?
Quelle est la qualité du fichier téléchargé?
Veuillez télécharger le livre pour apprécier sa qualité
Quelle est la qualité des fichiers téléchargés?
Volume:
9951
Année:
2016
Langue:
english
DOI:
10.1117/12.2238386
Fichier:
PDF, 2.56 MB
english, 2016
La conversion en est effectuée
La conversion en a échoué