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[IEEE 2017 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) - Monterey, CA, USA (2017.4.2-2017.4.6)] 2017 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) - New Insights into the Amplitude of Random Telegraph Noise in Nanoscale MOS Devices

Zhang, Zexuan, Guo, Shaofeng, Jiang, Xiaobo, Wang, Runsheng, Zhang, Zhe, Hao, Peng, Wang, Yangyuan, Huang, Ru
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Année:
2017
Langue:
english
DOI:
10.1109/IRPS.2017.7936288
Fichier:
PDF, 1.24 MB
english, 2017
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