Impact of Temporal Masking of Flip-Flop Upsets on Soft...

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IEEE Transactions on Nuclear Science 2017

Impact of Temporal Masking of Flip-Flop Upsets on Soft Error Rates of Sequential Circuits

chen, Rongmei, Mahatme, N.N., Diggins, Zachary, Wang, Liang, Zhang, En Xia, Chen, Yanran P., Liu, Yi, Narasimham, Balaji, Witulski, Arthur F., Bhuva, Bharat L., Fleetwood, Dan
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Année:
2017
Langue:
english
Journal:
IEEE Transactions on Nuclear Science
DOI:
10.1109/TNS.2017.2711034
Fichier:
PDF, 1.23 MB
english, 2017
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