Threshold-voltage variability analysis and modeling for...

Microelectronics Reliability 2017 / 07 Vol. 74

Threshold-voltage variability analysis and modeling for junctionless double-gate transistors

Chen, Chun-Yu, Lin, Jyi-Tsong, Chiang, Meng-Hsueh
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Volume:
74
Langue:
english
Journal:
Microelectronics Reliability
DOI:
10.1016/j.microrel.2017.05.002
Date:
July, 2017
Fichier:
PDF, 1.76 MB
english, 2017
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