(Invited) Advanced Measurement Techniques for the...

ECS Transactions 2017 / 05 Vol. 79; Iss. 1

(Invited) Advanced Measurement Techniques for the Characterization of ReRAM Devices

Nafria, Montserrat, Rodriguez, Rosana, Porti, Marc, Martin-Martinez, Javier, Crespo-Yepes, Albert, Claramunt, Sergi, Aymerich, Xavier
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Volume:
79
Langue:
english
Journal:
ECS Transactions
DOI:
10.1149/07901.0139ecst
Date:
May, 2017
Fichier:
PDF, 261 KB
english, 2017
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