SPIE Proceedings [SPIE Electron Technology Conference ELTE...

  • Main
  • SPIE Proceedings [SPIE Electron...

SPIE Proceedings [SPIE Electron Technology Conference ELTE 2016 - Wisla, Poland (Sunday 11 September 2016)] Electron Technology Conference 2016 - A fully differential OTA with dynamic offset cancellation in 28nm FD-SOI process

Swatowska, Barbara, Maziarz, Wojciech, Pisarkiewicz, Tadeusz, Kucewicz, Wojciech, Jaworski, Zbigniew
Avez-vous aimé ce livre?
Quelle est la qualité du fichier téléchargé?
Veuillez télécharger le livre pour apprécier sa qualité
Quelle est la qualité des fichiers téléchargés?
Volume:
10175
Année:
2016
Langue:
english
DOI:
10.1117/12.2261891
Fichier:
PDF, 542 KB
english, 2016
La conversion en est effectuée
La conversion en a échoué