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Influence of Intercell Trapped Charge on Vertical NAND...

IEEE Electron Device Letters 2017 / 2 Vol. 38; Iss. 2

Influence of Intercell Trapped Charge on Vertical NAND Flash Memory

Choi, Woo Young, Kwon, Hyug Su, Kim, Yong Jun, Lee, Byungin, Yoo, Hyunseung, Choi, Sangmoo, Cho, Gyu-Seog, Park, Sung-Kye
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Volume:
38
Langue:
english
Journal:
IEEE Electron Device Letters
DOI:
10.1109/LED.2016.2643278
Date:
February, 2017
Fichier:
PDF, 1.24 MB
english, 2017
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