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Local Bi ordering in MOVPE grown Ga(As,Bi) investigated by...

Applied Materials Today 2017 / 03 Vol. 6

Local Bi ordering in MOVPE grown Ga(As,Bi) investigated by high resolution scanning transmission electron microscopy

Beyer, Andreas, Knaub, Nikolai, Rosenow, Phil, Jandieri, Kakhaber, Ludewig, Peter, Bannow, Lars, Koch, Stephan W., Tonner, Ralf, Volz, Kerstin
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Volume:
6
Langue:
english
Journal:
Applied Materials Today
DOI:
10.1016/j.apmt.2016.11.007
Date:
March, 2017
Fichier:
PDF, 1.66 MB
english, 2017
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