[IEEE 2016 IEEE International Conference on Electron Devices and Solid-State Circuits (EDSSC) - Hong Kong, Hong Kong (2016.8.3-2016.8.5)] 2016 IEEE International Conference on Electron Devices and Solid-State Circuits (EDSSC) - The immunity of doping-less junctionless transistor variations including the line edge roughness

Dans 1-5 minutes, le fichier sera delivré à votre compte Telegram.

Note : Assurez-vous que vous avez lié votre compte au bot Telegram de Z-Library.

Dans 1-5 minutes, le fichier sera delivré à votre appareil Kindle.

Remarque: vous devez valider chaque livre avant de l'envoyer à Kindle. Veuillez vérifier votre messagerie pour voir le mail avec la confirmation par Amazon Kindle Support.