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Radiation Experiments on a 28 nm Single-Chip Many-Core...

IEEE Transactions on Nuclear Science 2017 / 1 Vol. 64; Iss. 1

Radiation Experiments on a 28 nm Single-Chip Many-Core Processor and SEU Error-Rate Prediction

Vargas, Vanessa, Ramos, Pablo, Ray, Vincent, Jalier, Camille, Stevens, Renaud, Dupont De Dinechin, Benoit, Baylac, Maud, Villa, Francesca, Rey, Solenne, Zergainoh, Nacer-Eddine, Mehaut, Jean-Francois,
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Volume:
64
Langue:
english
Journal:
IEEE Transactions on Nuclear Science
DOI:
10.1109/TNS.2016.2638081
Date:
January, 2017
Fichier:
PDF, 2.73 MB
english, 2017
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