Analysis of Interface Trap Densities for Al2O3 Dielectric...

Applied Mechanics and Materials 2016 / 12 Vol. 860

Analysis of Interface Trap Densities for Al2O3 Dielectric Material Based Ultra Thin MOS Devices

Maity, Niladri Pratap, Thakur, Rajiv R., Maity, Reshmi, Thapa, R.K., Baishya, S.
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Volume:
860
Langue:
english
Journal:
Applied Mechanics and Materials
DOI:
10.4028/www.scientific.net/amm.860.25
Date:
December, 2016
Fichier:
PDF, 569 KB
english, 2016
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