Probing Depth Study of Conversion Electron/He Ion Yield...

Analytical Sciences 1999 Vol. 15; Iss. 3

Probing Depth Study of Conversion Electron/He Ion Yield XAFS Spectroscopy on Strontium Titanate Thin Films.

YANASE, Etsuya, WATANABE, Iwao, HARADA, Makoto, TAKAHASHI, Masao, DAKE, Yoshinori, HIROSHIMA, Yasushi
Avez-vous aimé ce livre?
Quelle est la qualité du fichier téléchargé?
Veuillez télécharger le livre pour apprécier sa qualité
Quelle est la qualité des fichiers téléchargés?
Volume:
15
Année:
1999
Langue:
english
Journal:
Analytical Sciences
DOI:
10.2116/analsci.15.255
Fichier:
PDF, 53 KB
english, 1999
La conversion en est effectuée
La conversion en a échoué