Evaluating the influence of MCM-D post-processing on...

Journal of Instrumentation 2013 / 08 Vol. 8; Iss. 8

Evaluating the influence of MCM-D post-processing on silicon microstrip sensors

Eklund, L, Affolder, A, Casse, G, Chilingarov, A, Matheson, J, Tyndel, M
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Volume:
8
Langue:
english
Journal:
Journal of Instrumentation
DOI:
10.1088/1748-0221/8/08/P08003
Date:
August, 2013
Fichier:
PDF, 275 KB
english, 2013
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