[IEEE 2016 IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI) - Pittsburgh, PA, USA (2016.7.11-2016.7.13)] 2016 IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI) - Impact of VT and Body-Biasing on Resistive Short Detection in 28nm UTBB FDSOI -- LVT and RVT Configurations

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