[IEEE 2016 23rd International Workshop on Active-Matrix Flatpanel Displays and Devices (AM-FPD) - Kyoto, Japan (2016.7.6-2016.7.8)] 2016 23rd International Workshop on Active-Matrix Flatpanel Displays and Devices (AM-FPD) - Comparative study on light-induced negative-bias stress stabilities in amorphous In-Ga-Zn-O thin film transistors with photoinduced transient spectroscopy

Dans 1-5 minutes, le fichier sera delivré à votre compte Telegram.

Note : Assurez-vous que vous avez lié votre compte au bot Telegram de Z-Library.

Dans 1-5 minutes, le fichier sera delivré à votre appareil Kindle.

Remarque: vous devez valider chaque livre avant de l'envoyer à Kindle. Veuillez vérifier votre messagerie pour voir le mail avec la confirmation par Amazon Kindle Support.