Modeling truncated pixel values of faint reflections in...

Journal of Applied Crystallography 2016 / 06 Vol. 49; Iss. 3

Modeling truncated pixel values of faint reflections in MicroED images

Hattne, Johan, Shi, Dan, de la Cruz, M. Jason, Reyes, Francis E., Gonen, Tamir
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Volume:
49
Langue:
english
Journal:
Journal of Applied Crystallography
DOI:
10.1107/s1600576716007196
Date:
June, 2016
Fichier:
PDF, 794 KB
english, 2016
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