Biaxial stress evaluation in GeSn film epitaxially grown on...

Biaxial stress evaluation in GeSn film epitaxially grown on Ge substrate by oil-immersion Raman spectroscopy

Takeuchi, Kazuma, Suda, Kohei, Yokogawa, Ryo, Usuda, Koji, Sawamoto, Naomi, Ogura, Atsushi
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Volume:
55
Langue:
english
Journal:
Japanese Journal of Applied Physics
DOI:
10.7567/JJAP.55.091301
Date:
September, 2016
Fichier:
PDF, 754 KB
english, 2016
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