Testable MUTEX Design

IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers 2016 / 8 Vol. 63; Iss. 8

Testable MUTEX Design

Zhang, Yang, Heck, Leandro S., Moreira, Matheus T., Zar, David, Breuer, Melvin A., Calazans, Ney L. V., Beerel, Peter A.
Avez-vous aimé ce livre?
Quelle est la qualité du fichier téléchargé?
Veuillez télécharger le livre pour apprécier sa qualité
Quelle est la qualité des fichiers téléchargés?
Volume:
63
Langue:
english
Journal:
IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers
DOI:
10.1109/TCSI.2016.2561906
Date:
August, 2016
Fichier:
PDF, 3.00 MB
english, 2016
La conversion en est effectuée
La conversion en a échoué