Study of Hot-Carrier-Induced Traps in Nanoscale UTBB FD-SOI...

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IEEE Transactions on Electron Devices 2016

Study of Hot-Carrier-Induced Traps in Nanoscale UTBB FD-SOI MOSFETs by Low-Frequency Noise Measurements

Karatsori, Theano A., Theodorou, Christoforos G., Mescot, Xavier, Haendler, Sebastien, Planes, Nicolas, Ghibaudo, Gerard, Dimitriadis, Charalabos A.
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Année:
2016
Langue:
english
Journal:
IEEE Transactions on Electron Devices
DOI:
10.1109/ted.2016.2583504
Fichier:
PDF, 2.11 MB
english, 2016
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