Bias Polarity-Induced Transformation of Point Contact...

Advanced Electronic Materials 2015 / 08 Vol. 1; Iss. 8

Bias Polarity-Induced Transformation of Point Contact Resistive Switching Memory from Single Transparent Conductive Metal Oxide Layer

Huang, Jian-Shiou, Lin, Yung-Chang, Tsai, Hung-Wei, Yen, Wen-Chun, Chen, Chia-Wei, Lee, Chi-Yuan, Chin, Tsung-Shune, Chueh, Yu-Lun
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Volume:
1
Langue:
english
Journal:
Advanced Electronic Materials
DOI:
10.1002/aelm.201500061
Date:
August, 2015
Fichier:
PDF, 2.54 MB
english, 2015
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