Photoreflectance spectroscopy of pseudomorphic Si...

Materials Science and Technology 1995 / 04 Vol. 11; Iss. 4

Photoreflectance spectroscopy of pseudomorphic Si 1−X Ge x (100) structures (x

Carline, R. T., Pickering, C., Hosea, T. J. C., Hall, D. J.
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Volume:
11
Langue:
english
Journal:
Materials Science and Technology
DOI:
10.1179/mst.1995.11.4.416
Date:
April, 1995
Fichier:
PDF, 958 KB
english, 1995
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