SPIE Proceedings [SPIE International Symposium on Optical Science and Technology - San Diego, CA (Sunday 30 July 2000)] Polarization Analysis, Measurement, and Remote Sensing III - Polarized bidirectional reflectance from leaves in the visible and infrared

Dans 1-5 minutes, le fichier sera delivré à votre compte Telegram.

Note : Assurez-vous que vous avez lié votre compte au bot Telegram de Z-Library.

Dans 1-5 minutes, le fichier sera delivré à votre appareil Kindle.

Remarque: vous devez valider chaque livre avant de l'envoyer à Kindle. Veuillez vérifier votre messagerie pour voir le mail avec la confirmation par Amazon Kindle Support.