Depth profiling techniques: how PIXE compares to NRP and...

X-Ray Spectrometry 2011 Vol. 40; Iss. 3

Depth profiling techniques: how PIXE compares to NRP and MEIS?

C. E. I. Dos Santos, S. M. Shubeita, L. Amaral, P. L. Grande, J. F. Dias
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Volume:
40
Année:
2011
Langue:
english
Pages:
5
DOI:
10.1002/xrs.1327
Fichier:
PDF, 211 KB
english, 2011
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